第161章 芯片测试（2/5）

彼得罗夫站在一旁，眼睛紧紧盯着数据。“目前电压和电流的初始读数在正常范围内，但我们还需要进一步进行稳定性测试。”

稳定性测试是一个漫长的过程，需要在不同的温度和湿度条件下，观察芯片电气参数的变化。测试团队将芯片放入特制的温湿度箱中，模拟各种恶劣的环境条件。

“我们先从低温环境开始测试。”小李说道，他将温湿度箱的温度设置为 -20℃。

随着温度的降低，芯片的电气参数开始出现一些波动。大家的神经再次紧绷起来。

“注意观察功耗的变化，如果功耗突然增大，可能是电路中存在漏电现象。”彼得罗夫提醒道。

在低温环境下，芯片坚持了一段时间后，有一个参数超出了正常范围。

“这个情况不太妙，我们需要分析是哪个部分受到了低温的影响。”王海涛皱着眉头说道。