第172章 系统优化与模拟测试（2/5）

会议结束后，各个团队迅速投入到工作中。

专家教授团队的成员们围坐在电脑前，仔细分析着每一次出现计算错误的日志记录。小王指着屏幕上的一段代码说：“我觉得这个地方可能存在数据溢出的风险，我们需要对数据类型进行更加严格的定义。”

张教授点头表示同意：“没错，而且我们还要考虑到多线程并发情况下的数据一致性问题。我们可以采用一些同步机制来确保数据的正确性。”

他们开始对算法进行逐行的审查和优化，不断地进行测试和验证。经过几个小时的努力，终于找到了计算错误的原因，并成功地进行了修复。

与此同时，姜老的团队和专家教授团队一起，对光刻机的硬件参数进行了精细的调整。他们通过反复的实验和测量，确定了最佳的参数设置。姜老看着仪器上稳定的数据，脸上露出了满意的笑容：“现在硬件和控制系统的配合更加默契了，我们的努力没有白费。”

技术部的成员们则在模拟测试环境中忙碌着。他们设计了各种复杂的测试场景，包括不同的光刻工艺、不同的工作负载等。小李一边操作着测试设备，一边对同事说：“我们要尽可能地模拟实际生产中的各种情况，这样才能发现系统的潜在问题。”

经过一天的努力，系统优化和模拟测试工作取得了显着的进展。

当夕阳的余晖洒在公司的大楼上时，林宇再次召集大家进行总结会议。